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【技術成果】光學組件面形檢測儀

文章來源:院軍轉民發展部   時間:2012-11-15 16:50:00 訪問數:

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  項目名稱:光學組件面形檢測儀

  所屬領域:光機電

  技術簡介:針對目前光學組件面形檢測技術設備如干涉儀和哈特曼檢測儀等采用以大測大的方法,存在結構復雜度高、成本高、檢測實驗環境要求高,且不能對在線狀態下不同角度傾斜放置的大口徑光學組件實施面形檢測等問題,采用角差法原理,應用光機電算一體化技術研發光機組件面形檢測儀。

  技術特點:最大可檢測米量級的超大口徑平面光學組件,檢測精度最高可達λ/10(λ=632.8nm),重復檢測精度達λ/15。同等口徑精度相當條件下價格成本低于干涉儀等其他面形檢測儀超過50%。檢測效率優于干涉儀40%

  技術水平:國際領先

  市場情況:1.市場總量: 估算約1000億。

  2.客戶:光學元件高精度加工廠家、科研院所等。

  3.市場發展趨勢:隨著天文望遠鏡、ICF激光驅動器、平板電視等發展,對光學組件面形質量的檢測需求進一步提高,市場前景廣闊。

  合作方式:技術轉讓/風險投資/合作開發

  

  聯系單位:中國工程物理研究院激光聚變研究中心

  聯 系 人:范勇恒

  聯系電話:13730708337

  

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