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中子粉末衍射譜儀

文章來源:核物理與化學研究   時間:2011-10-28 8:18:00 訪問數:

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中子粉末衍射譜儀

  【譜儀性能參數指標】

  分辨率:0.2%

  波長1.8中子粉末衍射譜儀

  單色器:Ge(115)晶面

  樣品處注量率:106cm-2s-1

  探測器:70支3He陣列

  掃描衍射角范圍:8°~172°

  樣品環境裝置

  低溫范圍:10K~300K

  高溫范圍:20℃~1000℃

  高壓范圍:常壓~10GPa

  【主要用途介紹及應用范例】

  中子粉末衍射主要用于材料的晶體結構(含磁結構)測量和分析,確定材料的微觀結構參數,探討材料結構與性能的關系。可用于:

  新材料的結構測定與性能關系研究

  重基體材料中輕元素狀況分析(含氫鍵問題)

  磁性物質磁結構表征

  多晶材料晶體結構與磁相變研究

  極端環境(高壓、高低溫等)下材料行為研究

  在這臺譜儀上已經開展的主要工作有:鈦鋯樣品桿本底檢測實驗,測量了空的鈦鋯樣品桿中子衍射譜;LaNi4.25Al0.75 樣品中子衍射實驗;CuI樣品在常溫、586K下的中子衍射實驗;YFeSi樣品在15K、150K溫度下的中子衍射實驗;充氘玻璃小球在10k和50k低溫下的中子衍射試驗。


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