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高分辨中子衍射譜儀

文章來源:核物理與化學研究   時間:2011-10-28 8:18:00 訪問數:

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  【高分辨衍射譜儀整體布局圖】

  【譜儀性能參數指標】

  工作波長:0.1885nm;

  最小分辨率:0.2%;

  單色器:Ge(115)垂直聚焦,起飛角120°;

  樣品處中子束注量率:1×105/cm2·s,束流大小可調,最大10cm×2cm,最小2cm×0.5cm;

  探測器:64支3He陣列,探測效率約80%,測量范圍8°~172°;

  樣品環境:高低溫10K~1273K,高壓約10Gpa。

  【主要用途介紹及應用范例】

  高分辨中子衍射譜儀是我院自行設計,該譜儀主要用于材料的靜態晶體結構(包括磁性材料的磁結構)測量和分析,確定材料的微觀結構參數,探討材料結構與性能的關系,中子粉末衍射方法已成為現今研究材料晶體結構和磁結構的標準實驗技術。可用在:

  研究含有輕元素的材料(如氧化物、碳化物和儲氫材料等)的晶體結構和(或)磁結構,準確測量材料中輕元素的原子占位及占位數,探索儲氫材料結構特性及其與吸放氫、貯氫性能的關系。

  研究不同力學加載條件下,金屬材料微觀結構(如晶粒尺寸、位錯或層錯等)的演化。

  研究高溫或高壓等極端條件下材料的結構變化。

  復雜晶體結構的測定,例如催化劑、有機材料、沸石或非線性光學材料等。

  研究鐵磁性體和電子材料(如超導體和巨磁阻材料等)的晶體結構和磁結構的相變。

  用于納米材料研究,如納米貯氫材料、納米含能材料、納米復合材料等。


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